Išplėstinė paieška
 
 
 
Pradžia>Autoriaus rašto darbai

Autoriaus rašto darbai ( darbai)

Rūšiuoti pagal
  • Bangolaidinių elementų konstrukcijų tyrimas (2)

    Darbo tikslas. Susipažinti su superaukštų dažnių grandinių, sudarytų iš paprasčiausiu bangolaidinių elementų, konstrukcijomis. Ištirti šių elementų įtaką bangolaidinės grandinės darbo režimui. Bangolaidinių elementų piešiniai. Netikslumų įtaka stovinčios bangos koeficientui. Šešiuose dažniuose išmatuoti ks prijungus 90º kampu išlenktą perėją ir suderintą apkrovą. Ateniuatorius su suderinta apkrova. Išvados.
    Elektronika, laboratorinis darbas(3 puslapiai)
    2007-10-04
  • Constructive Solid Geometry (CSG) Rendering

    Darbas anglų kalba. Abstract. Description. Z-Buffer Intersection using the z and stencil buffers. Subtraction sequence for two objects. SCS algorithm. Voxelization. Swiss Cheese Model. CSG timing results. Conclusion.
    Geometrija, referatas(5 puslapiai)
    2005-10-25
  • Įtampų matavimas

    Darbo tikslas: išanalizuoti įvairių elektroninių voltmetrų struktūrines schemas, naudojamų juose svarbiausių funkcinių ir mastelio matavimo keitiklių sudarymo ypatumus ir jų savybes, nustatyti kaip nuo jų priklauso pagrindiniai voltmetrų metrologiniai ir eksploataciniai parametrai bei išsiaiškinti kaip voltmetrų su įvairiais funkciniais keitikliais rodmenys priklauso nuo matuojamosios įtampos formos. Naudotos priemonės. Voltmetrų struktūrinės schemos ir metrologinės savybės. Voltmetras V3-40. Voltmetras V3-38B. Metrologinės savybės. Voltmetras V7-26. Metrologinės savybės. Matavimų ir skaičiavimų rezultatai. Voltmetrų rodmenų priklausomybė nuo matuojamos įtampos kreivės formos. Matavimų ir skaičiavimų rezultatai. Voltmetrų rodmenų priklausomybė nuo stačiakampės formos vieno ženklo įtampos rečio. Išvados.
    Elektronika, laboratorinis darbas(6 puslapiai)
    2008-12-16
  • Mikroprocesoriai (7)

    Mikroprocesorių 2 namų darbas. Šešiolikos skilčių mokomosios mikroprocesorinės sistemos tyrimas. Registrų ir atminties peržiūros ir modifikavimo rezultatai. Duomenų persiuntimo atmintyje rezultatai. Duomenų baito išvestis per prievadą. Duomenų baito įvestis per prievadą. Displėjaus monitoriaus komandų valdymas. Išvados. Segmentinio atminties adresavimo principas 80x86 šeimos mikroprocesoriuose. Informacijos surašymas į gretimus kodo segmentus. Informacijos surašymas į kodo, duomenų, dėklo ir papildomo duomenų segmentus. Perėjimas į kitą atminties segmentą. Programos sudarymas ir vykdymas. Išvados. Operandų adresavimo būdai. Išvados. 80x86 šeimos mikroprocesorių programavimas. Programos "Debug" taikymas. Kai kurios programos Debug komandos. Susumavimas dviejų atmintyje esančių 16 bitų operandų, taikant tiesioginį ir registrinį adresavimą. Keitimasis informacija tarp registrų CX ir AX, taikant tiesioginį ir registrinį adresavimą. 2 baitų tiesioginio operando sudėjimas su kaupiklio turiniu, taikant registrinį adresavimą ir tiesioginį operandą. Iš atminties ląstelės turinio atėmimas kitos atminties ląstelės turinys, taikant registrinį adresavimą ir tiesioginį operandą. Operando persiuntimas iš atminties į kaupiklį, taikant bazinį, indeksinį, bazinį – indeksinį, santykinį adresavimo būdą. Operando esančio kaupiklyje sandauga su operandu esančiu atmintyje, taikant bazinį, indeksinį, bazinį – indeksinį, santykinį adresavimo būdą. Duomenų eilutės perkėlimas iš segmento ES į segmentą ES. Operando persiuntimas iš atminties į dėklą nurodytu adresu, taikant dėklinį adresavimą. Operando persiuntimas iš dėklo į registrą, taikant dėklinį adresavimą. Sudaryti ir kvikdyti programą, dėstytojo nurodytam veiksmui atlikti: (A-B-C)*5. Išvados.
    Programavimas, namų darbas(15 puslapių)
    2007-09-23
  • Netiesioginių matavimų paklaidų įvertinimas (24)

    Darbo tikslas: Išnagrinėti įvairius fazių skirtumo matavimo būdus ir priemones. Išsiaiškinti skaitmeninio fazometro struktūrinę schemą ir jo metrologines savybes. Išmatuoti grandinių dažnines fazės charakteristikas ir išanalizuoti fazometro bei netiesioginių matavimų paklaidas. Darbo eiga. Matavimas elektroniniu fazės matuokliu. Fazių skirtumo matavimas oscilografu. Fazių skirtumo skaičiavimas pagal išmatuotas R, C ir f vertes. Netiesioginių matavimų paklaidų skaičiavimas. Išvados.
    Elektronika, laboratorinis darbas(6 puslapiai)
    2008-12-16
  • Statistinių tikslumo tyrimo metodų taikymas

    Darbo tikslas: Išanalizuoti ir taikyti statistinius matavimo priemonių parametrų tikslumo tyrimo metodus bei tiesioginių matavimų rezultatų tvarkymo metodiką. Išnagrinėti mikroprocesoriumi valdomo funkcinio matavimo generatoriaus struktūrą, veikimo principą ir svarbiausius metrologinius parametrus. Įgyti matavimo priemonių metrologinių parametrų tikrinimo patirties. Generatoriaus svarbiausieji metrologiniai parametrai ir struktūrinė schema. Generatoriaus virpesio dažnio nustatymo tikslumo matavimų rezultatai. Generatoriaus virpesio dažnio stabilumo laike matavimų rezultatai. Generatoriaus virpesio netiesinių iškraipymų matavimo rezultatai. Atlikto darbo aptarimas. Išvados apie generatoriaus ištirtų metrologinių parametrų atitikimą leistinas reikšmes.
    Elektronika, laboratorinis darbas(5 puslapiai)
    2008-12-11